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| Référence fabricant: | SN74ABT8952DL |
| Fabricant: | Texas Instruments |
| Partie de la description: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP |
| Statut sans plomb / Statut RoHS: | Sans plomb / Conforme RoHS |
| État des stocks: | 16564 En stock |
| Expédier de: | Hong Kong |
| Manière d'expédition: | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
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| Taper | Description |
|---|---|
| État du produit | Obsolete |
| type logique | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| tension d'alimentation | 4.5V ~ 5.5V |
| nombre de bits | 8 |
| température de fonctionnement | -40°C ~ 85°C |
| Type de montage | Surface Mount |
| paquet / caisse | 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width) |
| paquet de dispositif de fournisseur | 28-BSSOP |
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